发明名称 |
OLED模组测试系统 |
摘要 |
本实用新型公开了一种OLED模组测试系统,包括程控信号源、程控电源、上位机以及AC-DC电源;程控电源包括第二MCU控制单元和电源输出模块,电源输出模块的输入端与第二MCU控制单元连接,电源输出模块的多路输出端分别与待测OLED模组连接;程控信号源包括ARM核心模块、图像信号发生模块和信号接口转换模块,所述ARM核心模块分别与上位机、第二MCU控制单元、图像信号发生模块和信号接口转换模块连接,图形信号发生模块的输出端与信号接口转换模块连接,信号接口转换模块的输出端与待测OLED模组连接;AC-DC电源分别与程控信号源和程控电源连接。本实用新型同时兼容LVDS、RGB、MIPI、DP四种接口信号,使得本实用新型能适用于不同尺寸LED模组的测试需求。 |
申请公布号 |
CN204375389U |
申请公布日期 |
2015.06.03 |
申请号 |
CN201520028745.9 |
申请日期 |
2015.01.15 |
申请人 |
武汉精测电子技术股份有限公司 |
发明人 |
彭骞;严运思;刘荣华;帅敏;雷新军;沈亚非;陈凯 |
分类号 |
G09G3/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G09G3/00(2006.01)I |
代理机构 |
武汉开元知识产权代理有限公司 42104 |
代理人 |
黄行军;刘琳 |
主权项 |
一种OLED模组测试系统,其特征在于:包括程控信号源(1)、程控电源(2)、上位机(3)以及AC‑DC电源(4);所述程控电源(2)包括第二MCU控制单元(21)和电源输出模块(22),所述电源输出模块(22)的输入端与第二MCU控制单元(21)连接,所述电源输出模块(22)的多路输出端分别与待测OLED模组(5)连接;所述程控信号源(1)包括ARM核心模块(11)、图像信号发生模块(12)和信号接口转换模块(13),所述ARM核心模块(11)分别与上位机(3)、第二MCU控制单元(21)、图像信号发生模块(12)和信号接口转换模块(13)连接,所述图像信号发生模块(12)的输出端与信号接口转换模块(13)连接,所述信号接口转换模块(13)的输出端与待测OLED模组(5)连接;所述AC‑DC电源(4)分别与程控信号源(1)和程控电源(2)连接。 |
地址 |
430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼 |