LEU的C接口信号测试设备及测试方法

摘要

本发明公开了一种LEU的C接口信号测试设备与测试方法，该测试设备包括：继电控制模块，用于调整C接口信号输入的负载电阻；C1信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理；C6信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理；信号检测模块，用于检测C1信号的参数与C6信号的参数，并提取报文信息、误码率；SCI通信模块，用于实现C接口信号测试设备与上位机的通信。利用该发明提供的设备对C接口信号进行测试时无需单独准备精密仪表，可方便、快速的进行测量，由于体积小、方便携带、供电简单，便于室外、轨旁作业，还具有操作简便、功耗低、成本低等优点。

主权项

一种LEU的C接口信号测试设备，其特征在于，所述设备包括：继电控制模块，用于调整LEU的C接口信号输入的负载电阻；C1信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理；C6信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理；信号检测模块，用于检测所述C1信号的参数与所述C6信号的参数，并提取报文信息、误码率；SCI通信模块，用于实现所述LEU的C接口信号测试设备与上位机的通信；所述C1信号处理模块具体包括：信号分离电路，用于将所述C接口信号分压，并将C6信号滤除；信号隔离电路，用于隔离滤波电路或环境中所产生的干扰信号；信号调理电路，用于将隔离后C1信号叠加一定直流分量，便于后级信号处理；上升沿处理电路，用于对调理后的C1信号上升沿进行初步界定，便于后级信号处理。