发明名称 可自动调整雷射光发射功率之测距方法
摘要
申请公布号 TWI484141 申请公布日期 2015.05.11
申请号 TW102115863 申请日期 2013.05.03
申请人 仁宝电脑工业股份有限公司 发明人 赖彦宏
分类号 G01C3/08 主分类号 G01C3/08
代理机构 代理人 李秋成 台北市内湖区瑞光路583巷27号4楼;曾国轩 台北市内湖区瑞光路583巷27号4楼;王丽茹 台北市内湖区瑞光路583巷27号4楼
主权项 一种可自动调整雷射光发射功率之测距方法,适用于一雷射测距装置,该雷射测距装置系具有一雷射发射器、一雷射接收器以及一旋转平台,该雷射发射器系设置于该旋转平台上,至少包含下列步骤:(a)首先,以一第一扫描转速驱动该旋转平台,并以一第一功率驱动该雷射发射器发射一第一雷射光至一目标物,其中该第一功率系为该雷射发射器之预设最高功率,该第一扫描转速系为该旋转平台之预设扫描转速;(b)接收由该目标物所反射之该第一雷射光,以对应产生一第一感测波形;(c)判断该第一感测波形中是否具有一饱和区间;(d)于判断结果为是时,以大于该第一扫描转速之一第二扫描转速驱动该旋转平台,并以低于该第一功率之一第二功率驱动该雷射发射器发射一第二雷射光至该目标物;(e)接收由该目标物所反射之该第二雷射光,以对应产生一第二感测波形;(f)判断该第二感测波形中是否具有该饱和区间;(g)于判断结果为否时,以该第二扫描转速驱动该旋转平台,以该第一功率驱动该雷射发射器发射一第三雷射光至该目标物,并接收由该目标物所反射之该第三雷射光,以对应产生一第三感测波形;(h)以该第二扫描转速驱动该旋转平台,以该第二功率驱动该雷射发射器发射一第四雷射光至该目标物,并接收由该目标物所反射之该第四雷射光,以对应产生一第四感测波形,以根据该第三感测波形及该第四感测波形取得该目标物与该雷射测距装置之间的距离。
地址 台北市内湖区阳光街385号