多功能芯片测试笔

摘要

多功能芯片测试笔。提供了一种结构简单，方便操作，保证接触面积和测试结果的多功能芯片测试笔。包括仪表、表笔、测试开关和罩盘，所述表笔通过表笔连接线连接所述仪表，所述测试开关设在所述表笔上、且通过测试开关连接线连接所述仪表；所述罩盘设在所述表笔的头部、且用于放置芯片。本实用新型将测试仪表上的测试开关移至测试表笔上，使表笔与测试开关成为一体，操作员可将测试表笔接触芯片的同时按动测试开关，达到单手可测试芯片的效果，提高可操作性及效率。表笔上设置罩盘，可将芯片放置在罩盘内，提高芯片放置的可靠性。本实用新型提高了工作效率，操作简便。

主权项

多功能芯片测试笔，其特征在于，包括仪表、表笔、测试开关和罩盘，所述表笔通过表笔连接线连接所述仪表，所述测试开关设在所述表笔上、且通过测试开关连接线连接所述仪表；     所述罩盘设在所述表笔的头部、且用于放置芯片。