发明名称 APTコントラスト向上および複数エコー時間におけるサンプリングを用いたMR撮像
摘要 <p>本発明は、MR装置の検査体積内の主磁場B0内に置かれたボディ(10)の少なくとも一部のCESTまたはAPT MR撮像の方法に関する。本発明の方法は以下の段階を含む:a)前記ボディ(10)の前記一部に、飽和周波数オフセットでの飽和RFパルスを受けさせる段階と;b)前記ボディ(10)の前記一部に、少なくとも一つの励起/再集束RFパルスおよびスイッチングされる磁場勾配を含む撮像シーケンスを受けさせて、それにより前記ボディ(10)の前記一部からMR信号がスピンエコー信号として収集される、段階と;c)段階a)およびb)を二回以上反復する段階であって、それらの反復の二つ以上において飽和周波数オフセットおよびエコー時間シフトの異なる組み合わせが適用されるよう、前記飽和周波数オフセットおよび/または前記撮像シーケンスにおけるエコー時間シフトが変えられる、段階と;d)収集されたMR信号からMR画像および/またはB0場均一性補正されたAPT/CEST画像を再構成する段階。さらに、本発明は、本発明の上記方法を実行するためのMR装置(1)およびMR装置上で実行されるコンピュータ・プログラムに関する。</p>
申请公布号 JP2015512317(A) 申请公布日期 2015.04.27
申请号 JP20150503963 申请日期 2013.03.21
申请人 发明人
分类号 A61B5/055 主分类号 A61B5/055
代理机构 代理人
主权项
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