| 主权项 |
一种具多层薄膜结构之表面电浆共振检测系统，系包含有：一入射光源，该入射光源系为一入射线性偏极化光源；该入射光源系采用658nm波长之线性偏振(P极化)雷射光。一菱镜，该入射光源发出一入射光入射于该菱镜一侧面；一光侦测器，该菱镜另一侧面反射出一反射光，该光侦测器可侦测该反射光强度；一基板，该基板顶面贴附于该菱镜底面上；及一多层薄膜结构，该多层薄膜结构包括一上金属层、一介电层及一下金属层，于该基板底面形成该上金属层，在该上金属层上沉积该介电层，于该介电层上形成该下金属层，且该下金属层厚度可大于该上金属层之厚度，该下金属层贴合一待测物。
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