发明名称 资料讯号的过取样方法及其过取样装置;OVERSAMPLING METHOD FOR DATA SIGNAL AND DEVICE USING THE SAME
摘要 一种资料讯号的过取样方法包括:依据多个取样相位过取样资料选通讯号和资料讯号以分别产生多个第一取样结果和多个第二取样结果、进行第一取样结果和第二取样结果的边缘侦测以分别找出其中发生边缘的第一边缘位置和第二边缘位置、当找到第二边缘位置时,根据相对应的第一边缘位置和第二边缘位置计算出并储存第一偏移、当未找到第二边缘位置时,则沿用前一次的第一偏移、根据第一边缘位置计算出第一取样点、根据第一取样点和各自所对应之第一偏移计算出第二取样点、以及根据各第二取样点选择并输出对应之第二取样结果。
申请公布号 TW201514987 申请公布日期 2015.04.16
申请号 TW102125108 申请日期 2013.07.12
申请人 瑞昱半导体股份有限公司 REALTEK SEMICONDUCTOR CORP. 发明人 刘烨 LIU, YE
分类号 G11C11/4076(2006.01);H03K21/40(2006.01) 主分类号 G11C11/4076(2006.01)
代理机构 代理人 李文贤
主权项
地址 新竹市新竹科学园区创新二路2号 TW