发明名称 纳米成像系统
摘要 本发明公开了一种纳米成像系统,该纳米成像系统包括:X射线光源;毛细管X光透镜,其入口焦距处设置X射线光源,用于收集并会聚X射线光源发出的X射线束,毛细管X光透镜的出口焦距处形成微焦斑;弯晶聚焦器,其入口焦斑与毛细管X光透镜的微焦斑位置重合形成共聚焦结构,并在出口焦斑形成单色微焦斑;弯晶聚焦器的出口焦斑处放置有样品;放大器,设置于样品之后的光路上,用于会聚并放大样品的成像信号;探测器,设置在放大器之后,用于探测并收集样品的成像信号。因此,实施本发明能够实现高效纳米成像的同时降低设备成本,并提升设备的功能和寿命。
申请公布号 CN104515785A 申请公布日期 2015.04.15
申请号 CN201410811977.1 申请日期 2014.12.22
申请人 北京师范大学;天津三英精密仪器有限公司 发明人 孙天希;孙学鹏;刘志国;须颖;董友
分类号 G01N23/04(2006.01)I;G03B42/02(2006.01)I 主分类号 G01N23/04(2006.01)I
代理机构 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人 苗源;李冬梅
主权项 一种纳米成像系统,其特征在于,包括:X射线光源(1);毛细管X光透镜(3),其入口焦距处设置所述X射线光源(1),用于收集并会聚所述X射线光源(1)发出的X射线束(2),所述毛细管X光透镜(3)的出口焦距处形成微焦斑(4);弯晶聚焦器(6),其入口焦斑与所述毛细管X光透镜(3)的微焦斑(4)位置重合形成共聚焦结构,并在出口焦斑处形成单色微焦斑(7);所述弯晶聚焦器(6)的出口焦斑处放置有样品;所述弯晶聚焦器(6)的入口端或出口端处配置有所述调节器(5),用于挡住入射或出射于所述弯晶聚焦器(6)的中间部分X射线;放大器(8),设置于所述样品之后的光路上,用于会聚并放大所述样品的成像信号;探测器(9),设置在所述放大器(8)之后,用于探测并收集所述样品的成像信号。
地址 100875 北京市海淀区新街口外大街19号北京师范大学核科学与技术学院