发明名称 基于LED相对光谱随温度变化的结温测试方法
摘要 本发明公开了一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法,属于LED光电检测领域。本发明的一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试装置及其方法,主要包括驱动电源、恒温器、积分球仪、光谱分析仪,根据LED结温与相对光谱之间存在相关性的原理,一方面通过恒温器控制待测LED的温度,并利用小电流驱动待测LED发光;另一方面,通过光谱分析仪采集待测LED的相对光谱,并采用不同温度下的相对光谱与参考相对光谱围成的面积为结温表征参数,通过拟合得到结温表征参数与LED结温的关系公式。本发明的主要用途是提供一种测量更加准确、可靠、方便,且简单、实用、廉价的LED结温检测装置及其方法。
申请公布号 CN103267588B 申请公布日期 2015.04.01
申请号 CN201310221606.3 申请日期 2013.06.05
申请人 常州工学院 发明人 饶丰;徐安成;朱锡芳;杨武;胡春香
分类号 G01K11/00(2006.01)I 主分类号 G01K11/00(2006.01)I
代理机构 南京知识律师事务所 32207 代理人 高桂珍
主权项 一种基于LED相对光谱随温度变化的结温测试方法,其步骤为:(1)、将灯座(3)放置于恒温器(2)上,保持两者良好的热接触,将待测LED(4)安装于灯座(3)上,并保持良好的热接触和电接触,然后将光谱分析仪(6)的探头与积分球仪(5)的一侧连接,积分球仪(5)的另一侧与待测LED(4)相连,将光谱分析仪(6)的输出端与电脑(7)连接,将电脑(7)与驱动电源(1)连接,将驱动电源(1)与灯座(3)连接;(2)、步骤(1)结束后,设置恒温器(2)的温度,当待测LED(4)的温度达到设置的恒温器(2)的温度后,打开驱动电源(1)使待测LED(4)在小电流的驱动下发光,然后用光谱分析仪(6)检测待测LED(4)的相对光谱,即归一化光谱,并由电脑(7)记录上述相对光谱的检测结果;(3)、改变恒温器(2)的温度,重复步骤(2),得到不同恒温器(2)温度下的待测LED(4)的相对光谱,并由电脑(7)记录检测结果;(4)、步骤(3)结束后,选取恒温器(2)在25±1℃时,光谱分析仪(6)检测的小电流驱动下的相对光谱为参考相对光谱,其他不同恒温器(2)温度下的相对光谱与参考相对光谱之差的绝对值之和为结温表征参数;(5)、将恒温器(2)的温度作为待测LED(4)的结温,将恒温器(2)的温度以及对应的结温表征参数进行最小二乘法拟合,得出结温表征参数与待测LED(4)结温的关系公式;(6)、测量正常工作下的待测LED(4)的相对光谱,采用与步骤(4)相同的方法确定结温表征参数,最后利用步骤(5)得出的关系公式求出待测LED(4)的结温。
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