一种芯片器件及其测试方法

摘要

本发明提供了一种芯片器件及其测试方法，所述芯片器件内置有n个模块和n个单端与差分转换电路，每个所述模块分别对应一个所述单端与差分转换电路，每个所述模块连接与该模块对应的单端与差分转换电路的差分端口，各个单端与差分转换电路的单端端口分别连接所述芯片器件的引脚；其中。本发明中在芯片器件内置有n个模块和n个单端与差分转换电路，每一个模块连接一个对应的单端与差分转换电路的差分端口，因此将所述模块输出的差分信号转换成单端信号或者将单端信号转换成差分信号后输出至所述模块，单端与差分转换电路的单端端口连接芯片器件的引脚，可见，每个模块只需占用一个引脚，因此n个模块只需占用n个引脚，从而节省宝贵的引脚资源。

主权项

一种芯片器件，其特征在于，所述芯片器件内置有ｎ个模块和ｎ个单端与差分转换电路，每个所述模块分别对应一个所述单端与差分转换电路，每个所述模块连接与该模块对应的单端与差分转换电路的差分端口，各个单端与差分转换电路的单端端口分别连接所述芯片器件的引脚；其中，所述ｎ为大于或等于1的自然数。