发明名称 |
阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置 |
摘要 |
本发明提供一种阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置,属于显示技术领域,其可解决现有的阵列基板在进行Array&Cell Test不良检测时,信号线与修复线由于ESD短接在一起导致显示不良不容易被检测出来的问题。本发明的阵列基板,其包括信号线,与信号线交叉且绝缘设置的修复线,以及检测单元和外加电源电压输入端;其中,所述修复线与所述检测单元电性连接,所述检测单元用于在所述修复线与所述信号线短接时,在信号线的控制下将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中。 |
申请公布号 |
CN104407481A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201410748651.9 |
申请日期 |
2014.12.09 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
发明人 |
黄小平 |
分类号 |
G02F1/1362(2006.01)I;G09G3/00(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/1362(2006.01)I |
代理机构 |
北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 |
代理人 |
柴亮;张天舒 |
主权项 |
一种阵列基板,其包括信号线,以及与信号线交叉且绝缘设置的修复线,其特征在于,所述阵列基板还包括:检测单元和外加电源电压输入端;其中,所述修复线与所述检测单元电性连接,所述检测单元用于在所述修复线与所述信号线短接时,在信号线的控制下将所述外加电源电压输入端所输入的外加电源电压引入到该修复线中。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |