发明名称 一种可变存储器校验的方法及系统
摘要 本申请提供了一种可变存储器校验的方法,包括:获取存储区域校验单元首地址和对应数据;对当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第一个CRC校验值;对之后的所有单元进行CRC校验,返回第二个CRC校验值;对当前数据位进行走步操作;对之前的所有单元进行CRC校验,返回第三个CRC校验值;对之后的所有单元进行CRC校验,返回第四个CRC校验值;当第一个CRC校验值和第三个CRC校验值一致时,比较第二个CRC校验值和第四个CRC校验值,当一致时,对下一位进行走步操作,直到所有数据位均校验完毕;恢复当前校验单元的数据,能够检测出存储单元之间的串扰,达到高有效诊断覆盖率。
申请公布号 CN104407929A 申请公布日期 2015.03.11
申请号 CN201410793825.3 申请日期 2014.12.19
申请人 重庆川仪自动化股份有限公司 发明人 吕鹏勃;艾军
分类号 G06F11/10(2006.01)I 主分类号 G06F11/10(2006.01)I
代理机构 北京信远达知识产权代理事务所(普通合伙) 11304 代理人 魏晓波
主权项 一种可变存储器校验的方法,其特征在于,该方法包括:获取目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据;存储所述目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据;对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第一个CRC校验值;对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验,返回第二个CRC校验值;对所述当前校验单元中的当前数据位进行走步操作;对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第三个CRC校验值;对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验,返回第四个CRC校验值;比较所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值,当所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值一致时,比较所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值,当所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值一致时,对所述当前数据位的下一位进行走步操作,依次执行所述校验操作和所述比较操作,直到所述当前校验单元中的所有数据位均校验完毕;根据所述存储的当前校验单元的首地址,将所述存储的当前校验单元的数据重新保存到所述当前校验单元中;按照上述的方法依次校验所述目标存储区域中的所有校验单元。
地址 400700 重庆市北碚区人民村1号
您可能感兴趣的专利