发明名称 |
一种可变存储器校验的方法及系统 |
摘要 |
本申请提供了一种可变存储器校验的方法,包括:获取存储区域校验单元首地址和对应数据;对当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第一个CRC校验值;对之后的所有单元进行CRC校验,返回第二个CRC校验值;对当前数据位进行走步操作;对之前的所有单元进行CRC校验,返回第三个CRC校验值;对之后的所有单元进行CRC校验,返回第四个CRC校验值;当第一个CRC校验值和第三个CRC校验值一致时,比较第二个CRC校验值和第四个CRC校验值,当一致时,对下一位进行走步操作,直到所有数据位均校验完毕;恢复当前校验单元的数据,能够检测出存储单元之间的串扰,达到高有效诊断覆盖率。 |
申请公布号 |
CN104407929A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201410793825.3 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
重庆川仪自动化股份有限公司 |
发明人 |
吕鹏勃;艾军 |
分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/10(2006.01)I |
代理机构 |
北京信远达知识产权代理事务所(普通合伙) 11304 |
代理人 |
魏晓波 |
主权项 |
一种可变存储器校验的方法,其特征在于,该方法包括:获取目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据;存储所述目标存储区域中当前校验单元的首地址和对应的数据;对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第一个CRC校验值;对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验,返回第二个CRC校验值;对所述当前校验单元中的当前数据位进行走步操作;对所述当前校验单元之前的所有单元进行CRC校验,返回第三个CRC校验值;对所述当前校验单元之后的所有单元进行CRC校验,返回第四个CRC校验值;比较所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值,当所述第一个CRC校验值和所述第三个CRC校验值一致时,比较所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值,当所述第二个CRC校验值和所述第四个CRC校验值一致时,对所述当前数据位的下一位进行走步操作,依次执行所述校验操作和所述比较操作,直到所述当前校验单元中的所有数据位均校验完毕;根据所述存储的当前校验单元的首地址,将所述存储的当前校验单元的数据重新保存到所述当前校验单元中;按照上述的方法依次校验所述目标存储区域中的所有校验单元。 |
地址 |
400700 重庆市北碚区人民村1号 |