发明名称 | 一种基于高阶准位相匹配互相关的信噪比单次测量方法及其装置 | ||
摘要 | 本发明属于激光技术领域,具体为一种基于高阶准位相匹配互相关的脉冲信噪比单次测量方法及其装置。高阶准位相匹配的引入,很好地解决了传统测量方法中测量窗口、分辨率和保真度不能同时满足的问题。基于高阶准位相匹配原理,我们设计了两类互相关构型:同侧互相关和侧向互相关。这两种测量构型都可以实现大窗口、高分辨率和高保真度的测量。 | ||
申请公布号 | CN102840921B | 申请公布日期 | 2015.03.04 |
申请号 | CN201210342611.5 | 申请日期 | 2012.09.17 |
申请人 | 复旦大学 | 发明人 | 钱列加;马金贵;王永志;袁鹏;谢国强;朱鹤元 |
分类号 | G01J11/00(2006.01)I | 主分类号 | G01J11/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人 | 陆飞;盛志范 |
主权项 | 一种基于高阶准位相匹配互相关的信噪比单次测量方法,包括以下步骤:1)产生脉冲的相关信号;2)传输所述的相关信号,在所述的相关信号传输过程中,衰减所述相关信号;3)接收并探测步骤2)得到的衰减后相关信号,产生模拟信号;4)转换所述模拟信号为数字信号,再接收并处理所述数字信号得到脉冲的信噪比;其特征在于:步骤1)中产生脉冲的相关信号的过程具体如下:近红外待测激光被分束器分为两束,其中一束作为待测光束,其依次经过潜望镜转偏振,反射镜反射后,经过扩束器扩束使得光束口径接近晶体宽度,再由柱凹面镜将其聚焦至晶体宽的端面;另一光束用来产生取样光束,其通过脉冲净化器产生干净取样光,再经反射镜反射,时间延时线延时后,直接由圆凹面镜聚焦至晶体的窄端面上,或者是经过扩束器扩束后再由柱凹面镜聚焦至晶体的同一宽端面上,两光束发生和频互相关作用,得到相关信号;所述晶体设计时需要满足<img file="300039dest_path_image001.GIF" wi="89" he="24" />, 其中k<sub>m</sub>为极化区的格矢,m为≥3的奇数,Λ为晶体极化区的周期。 | ||
地址 | 200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |