发明名称 | 一种平面平整度智能测量系统 | ||
摘要 | 本实用新型公开了一种平面平整度智能测量系统,包括可调节参数光源,多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库;可调节参数光源向待测平面发射特定光束;多光谱摄像机接收待测平面反射光;图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输;图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。本实用新型采用机器视觉、图像处理与人工智能等技术的结合,快速、无损、准确地评定平整度。 | ||
申请公布号 | CN204154293U | 申请公布日期 | 2015.02.11 |
申请号 | CN201420618144.9 | 申请日期 | 2014.10.23 |
申请人 | 成都金采科技有限公司 | 发明人 | 不公告发明人 |
分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/30(2006.01)I |
代理机构 | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人 | 周永宏 |
主权项 | 一种平面平整度智能测量系统,其特征在于:包括可调节参数光源,多光谱摄像机、图像采集卡和处理系统对比数据库;可调节参数光源向待测平面发射特定光束;多光谱摄像机接收待测平面反射光;图像采集卡接收多光谱摄像机的信号传输;图像采集卡将信号传输到处理系统对比数据库。 | ||
地址 | 611731 四川省成都市高新区永丰路6号C27 |