发明名称 元件外表面检验装置
摘要 本创作揭示一种元件外表面检验装置,可用以检验一待测元件之外表面,包含:一载台,将该待测元件输送至一第一预定区域;一取像模组,包含至少一调整座、一棱镜及一摄像单元,该棱镜活动地结合于该调整座,该棱镜可将该待测元件之复数个视角折射成像,该摄像单元包含一摄影装置,该摄影装置连接一镜头,该镜头朝向一第二预定区域对焦;及一光源组件,用以提供光线至该第一预定区域;本创作亦揭示一种元件检测机台,系包含上述之元件外表面检验装置。本创作提供之元件外表面检验装置,可以达到降低整体装置之体积及提高检验准确率的功效。
申请公布号 TWM494301 申请公布日期 2015.01.21
申请号 TW103210178 申请日期 2014.06.10
申请人 精湛光学科技股份有限公司 高雄市湖内区忠孝街110巷58号 发明人 张勋章;洪立玟
分类号 G01N21/84 主分类号 G01N21/84
代理机构 代理人
主权项 一种元件外表面检验装置,用以检验一待测元件之外表面,包含:一载台,具有一承置面,承置该待测元件,该载台将该待测元件输送至一第一预定区域;一取像模组,包含至少一调整座、一棱镜及一摄像单元,该棱镜活动地结合于该调整座,该棱镜可将该待测元件之复数个视角折射成像,该摄像单元包含一摄影装置,该摄影装置连接一镜头,该镜头朝向一第二预定区域对焦;及一光源组件,用以提供光线至该第一预定区域。
地址 高雄市湖内区忠孝街110巷58号