发明名称 |
在过程中分析过程设备的操作的测量系统和过程测量系统 |
摘要 |
本实用新型提供了一种用于在过程中分析过程设备的操作的测量系统和用于过程中的过程测量系统。一种非侵入式传感器系统包括设置在过程中以测量不同的输入过程现象的传感器阵列以及使用经验模型来分析传感器测量值以产生未由该传感器阵列中的任意一个传感器直接测量的另一个过程现象的估计值的逻辑单元。该传感器阵列中的传感器可以是非侵入式传感器,该非侵入式传感器以侵入式或非侵入式的方式测量输入过程现象但是关于输出过程现象是非侵入式的,因为这些传感器中的任意一个都没有直接接触表现该输出过程现象的过程流体或过程元素。传感器阵列中的传感器可以是用于产生过程中的不同或相同位置处的特定过程现象的测量值的任意类型的传感器。 |
申请公布号 |
CN204065826U |
申请公布日期 |
2014.12.31 |
申请号 |
CN201420307707.2 |
申请日期 |
2014.06.10 |
申请人 |
罗斯蒙特公司 |
发明人 |
M·S·舒马赫 |
分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G05B23/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 11256 |
代理人 |
郑立柱;张平 |
主权项 |
一种用于在过程中分析过程设备的操作的测量系统,其特征在于,包括:包括设置在所述过程中的至少一个非侵入式传感器的多个传感器,其中,所述多个传感器中的每个传感器测量所述过程中的不同物理过程现象以产生用于指示物理过程现象的传感器测量值;以及可通信地耦接到所述多个传感器中的每个传感器以接收所述传感器测量值的逻辑模块,所述逻辑模块包括逻辑引擎以及用于将所述不同物理过程现象中的每个物理过程现象的值的测量值与另一个物理过程现象相关的模型,其中,所述逻辑模块在计算机处理器设备上操作以使用所述模型和所述传感器测量值来确定所述另一个物理过程现象的值。 |
地址 |
美国明尼苏达州 |