用于XRF设备的治具及采用该治具的检测方法

摘要

本发明涉及用于XRF设备的治具和采用所述治具的检测方法，其中，所述治具包括：治具主体，其包括接触部分，用于接触和向上支撑以XRF设备检测的待测物，所述接触部分具有从治具主体的上表面沿向下方向的厚度并与待测物的基体具有相同的材质。这样，通过额外地增加待测物的基体的厚度，可克服由于基体和待测物本身过薄产生的测量误差，并且可降低测量时的噪点，提高了XRF设备的检测精度。

主权项

一种用于XRF设备的治具，其特征在于，包括：治具主体，其包括接触部分，用于接触和向上支撑以XRF设备检测的待测物，所述接触部分具有从治具主体的上表面沿向下方向的厚度并与待测物的基体具有相同的材质；垫板，其向上支撑所述治具主体的至少所述接触部分；所述垫板的材质为弹性材料；加压装置，用于对所述垫板施加压紧力，以确保所述垫板与所述治具主体的至少所述接触部分保持接触。