发明名称 |
曝光方法及曝光装置、以及元件制造方法;EXPOSURE METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD |
摘要 |
本发明,系根据在载台(WST1)上搭载之四个读头(601~604)中、包含互异之一个读头之三个读头所属之第1读头群与第2读头群中所含之读头对向于标尺板上对应区域之区域(A0)内,使用第1读头群所得之位置资讯驱动载台(WST1),并使用以第1及第2读头群所得之位置资讯求出对应之第1及第2基准座标系(C1、C2)间之偏差(位置、旋转、定标之偏差)。使用该结果修正使用第2读头群所得之测量结果,据以修正第1及第2基准座标系(C1、C2)间之偏差、以及四个读头(601~604)之分别对向之标尺板上之区域彼此间之偏差伴随之测量误差。 |
申请公布号 |
TW201447507 |
申请公布日期 |
2014.12.16 |
申请号 |
TW103129829 |
申请日期 |
2010.08.25 |
申请人 |
尼康股份有限公司 |
发明人 |
柴崎佑一 |
分类号 |
G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) |
主分类号 |
G03F7/20(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>阎启泰</name><name>林景郁</name> |
主权项 |
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地址 |
日本 |