发明名称 曝光方法及曝光装置、以及元件制造方法;EXPOSURE METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD
摘要 本发明,系根据在载台(WST1)上搭载之四个读头(601~604)中、包含互异之一个读头之三个读头所属之第1读头群与第2读头群中所含之读头对向于标尺板上对应区域之区域(A0)内,使用第1读头群所得之位置资讯驱动载台(WST1),并使用以第1及第2读头群所得之位置资讯求出对应之第1及第2基准座标系(C1、C2)间之偏差(位置、旋转、定标之偏差)。使用该结果修正使用第2读头群所得之测量结果,据以修正第1及第2基准座标系(C1、C2)间之偏差、以及四个读头(601~604)之分别对向之标尺板上之区域彼此间之偏差伴随之测量误差。
申请公布号 TW201447507 申请公布日期 2014.12.16
申请号 TW103129829 申请日期 2010.08.25
申请人 尼康股份有限公司 发明人 柴崎佑一
分类号 G03F7/20(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/20(2006.01)
代理机构 代理人 <name>阎启泰</name><name>林景郁</name>
主权项
地址 日本