发明名称 | 检测方法及检测装置;METHOD OF INSPECTION AND INSPECTION APPARPTUS | ||
摘要 | 一种检测方法包括下列步骤。令光电检测元件与包括多个画素单元的画素阵列基板接触。输入多个电气讯号至画素阵列基板的画素单元与光电检测元件。根据光电检测元件的光学特性,判断画素阵列基板的画素单元是否正常。此外,一种实现上述检测方法的检测装置亦被提出。 | ||
申请公布号 | TW201441642 | 申请公布日期 | 2014.11.01 |
申请号 | TW102115288 | 申请日期 | 2013.04.29 |
申请人 | 元太科技工业股份有限公司 | 发明人 | 刘全丰;黄振勋;黄霈霖;李锡麟;蔡振法;张永昇 |
分类号 | G01R31/308(2006.01) | 主分类号 | G01R31/308(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | <name>詹铭文</name><name>叶璟宗</name> | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市科学工业园区力行一路3号 |