发明名称 检测方法及检测装置;METHOD OF INSPECTION AND INSPECTION APPARPTUS
摘要 一种检测方法包括下列步骤。令光电检测元件与包括多个画素单元的画素阵列基板接触。输入多个电气讯号至画素阵列基板的画素单元与光电检测元件。根据光电检测元件的光学特性,判断画素阵列基板的画素单元是否正常。此外,一种实现上述检测方法的检测装置亦被提出。
申请公布号 TW201441642 申请公布日期 2014.11.01
申请号 TW102115288 申请日期 2013.04.29
申请人 元太科技工业股份有限公司 发明人 刘全丰;黄振勋;黄霈霖;李锡麟;蔡振法;张永昇
分类号 G01R31/308(2006.01) 主分类号 G01R31/308(2006.01)
代理机构 代理人 <name>詹铭文</name><name>叶璟宗</name>
主权项
地址 新竹市科学工业园区力行一路3号