一种半导体芯片测试设备

摘要

本实用新型涉半导体芯片领域，具体的说是涉及一种半导体芯片测试设备，它包括进料装置、测试装置，所述测试装置设置在进料装置的左侧，所述进料装置包括进料控制器、连续式螺杆推动装置、平台，所述进料控制器分别与所述连续式螺杆推动装置和所述平台连接，所述测试装置包括支架、测试平台、测试机构、半导体芯片分选机构、分选收料盒、测试分选仪，所述测试平台设在支架上方，所述测试机构位于所述测试平台一侧，所述测试机构下方正对与所述平台，所述半导体芯片分选机构位于所述测试机构下方，所述分选收料盒位于所述支架下方，所述测试分选仪位于所述测试装置左侧。

主权项

一种半导体芯片测试设备,包括进料装置、测试装置，所述测试装置设置在进料装置的左侧，其特征在于：所述进料装置包括进料控制器、连续式螺杆推动装置、平台，所述进料控制器分别与所述连续式螺杆推动装置和所述平台连接，所述测试装置包括支架、测试平台、测试机构、半导体芯片分选机构、分选收料盒、测试分选仪，所述测试平台设在支架上方，所述测试机构位于所述测试平台一侧，所述测试机构下方正对与所述平台，所述半导体芯片分选机构位于所述测试机构下方，所述分选收料盒位于所述支架下方，所述测试分选仪位于所述测试装置左侧。