发明名称 电性接点构件
摘要 本发明系一种电性接点构件,其中,提供可实现与被检体之低附着性同时,保持长期间安定之导电性,特别是在约85℃程度之高温的反覆接触,或在大气中加以长期间放置之后,亦实现与被检体之低附着性同时,可抑制接触阻抗的上升,保持长期间安定之电性接触的电性接点构件。本发明系反覆接触于被检体之电性接点构件,其中,有关以与被检体接触之电性接点构件的表面系含有Pd之碳被膜所构成之电性接点构件。
申请公布号 TWI457570 申请公布日期 2014.10.21
申请号 TW101121579 申请日期 2012.06.15
申请人 神户制钢所股份有限公司 日本 发明人 慈幸范洋;平野贵之
分类号 G01R1/067;H01L21/66 主分类号 G01R1/067
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种电性接点构件,系反覆接触于被检体之电性接点构件,其特征为与前述被检体接触之前述电性接点构件的表面系由含有Pd之碳被膜加以构成者。
地址 日本