| 发明名称 | 用于编程存储器阵列的方法 | ||
| 摘要 | 本发明揭示用于编程存储器阵列的方法和设备。在一个实施例中，在编程各个字线后，设法检测所述字线上的缺陷。如果检测到缺陷，那么用冗余字线修复所述字线。然后重新编程所述字线并重新检查是否有缺陷。在另一个实施例中，在编程各个字线后，设法检测所述字线上的缺陷。如果检测到缺陷，那么将所述字线与先前编程的相邻字线一起修复。在再一个实施例中，在编程各个字线后，设法检测所述字线和先前编程的相邻字线上的缺陷。如果在所述字线上检测到缺陷，那么用冗余字线修复所述字线和所述先前编程的相邻字线。 | ||
| 申请公布号 | CN101189683B | 申请公布日期 | 2014.10.15 |
| 申请号 | CN200680019980.3 | 申请日期 | 2006.06.13 |
| 申请人 | 桑迪士克3D公司 | 发明人 | 本迪克·克莱韦兰;李泰元;于承恩;杨嘉;李锋;杨晓宇 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 刘国伟 |
| 主权项 | 一种用于编程存储器阵列的方法，所述方法包括：(a)编程存储器阵列中的第一和第二字线，其中所述第一字线包括仅在编程所述第二字线后才可检测到的缺陷；(b)在编程各个字线后：(b1)设法检测所述字线上的缺陷；和(b2)如果检测到缺陷，那么用冗余阵列中的冗余字线修复所述字线；和(c)重复(a)和(b)，从而在第二次实施(a)和(b)时检测所述第一字线上的所述缺陷并且修复所述第一字线。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||