发明名称 |
记忆体阵列中之电阻式记忆体单元的形成方法、记忆体单元装置及电阻式开关记忆体阵列;METHOD OF FORMING RESISTIVE MEMORY CELL WITHIN MEMORY CELL, MEMORY CELL DEVICE AND RESISTIVE SWITCHING MEMORY ARRAY |
摘要 |
本发明揭露一种记忆体阵列中之电阻式记忆体单元的形成方法,包括于形成于一基板上的一第一金属层上形成一图案化的停止层及于图案化的停止层的特征图样内形成一下电极。此方法更包括形成一电阻式记忆体层。电阻式记忆体层包括一金属氧化物层及一上电极层。此方法更包括将电阻式记忆体层图案化,以使得上电极层作为记忆体阵列中的一位元线及电阻式记忆体单元的一上电极。 |
申请公布号 |
TW201436110 |
申请公布日期 |
2014.09.16 |
申请号 |
TW103101928 |
申请日期 |
2014.01.20 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
张至扬;朱文定;涂国基;陈侠威;廖钰文;杨晋杰 |
分类号 |
H01L21/8239(2006.01);H01L45/00(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/8239(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
<name>洪澄文</name><name>颜锦顺</name> |
主权项 |
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地址 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 |