一种高可靠性插拔测试装置

摘要

本实用新型涉及一种高可靠性插拔测试装置，包括支撑板、测试PCB和用于实现待测模块与测试PCB电接触的模块控制组件；测试PCB的下端面与支撑板的上端面固定连接；模块控制组件设置于测试PCB的上端面。本实用新型的有益效果是：本实用新型解决了现有按压式测试装置效率太低，在测试过程中经常会接触不好的技术问题；采用本实用新型快捷、可靠、操作方便、耐用性好，用户可以在同等时间同等人员的情况下完成更多的测试装夹，可广泛应用于所有行业对应的电子产品测试的生产工艺中。

主权项

一种高可靠性插拔测试装置，其特征在于：包括支撑板（1）、测试PCB（2）和用于实现待测模块（4）与所述测试PCB（2）电接触的模块控制组件（3）；所述测试PCB（2）的下端面与所述支撑板（1）的上端面固定连接；所述模块控制组件（3）设置于所述测试PCB（2）的上端面；所述测试PCB（2）上设有多个焊孔（2.2）；所述模块控制组件（3）包括底座（3.1）、框架（3.3）和多个导通夹持弹片（3.2）；所述底座（3.1）上设有与多个所述焊孔（2.2）相对应的多个导针孔；所述底座（3.1）的下端面与所述测试PCB（2）的上端面固定连接；多个所述导通夹持弹片（3.2）依次穿过所述导针孔和焊孔（2.2）、且与所述焊孔（2.2）焊接；所述框架（3.3）的下端与所述底座（3.1）固定连接，且所述框架（3.3）与所述底座（3.1）之间组成一个用于放置待测模块（4）的放置区域。