| 发明名称 | 超导线材的常导过渡的检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明是一种具备基体材料、具有77K以上的临界温度的超导层以及金属稳定化层的超导线材(1)的常导过渡的检测方法，光纤(3)配置于超导线材(1)，向光纤(3)入射测定光，并测量测定光的反斯托克斯拉曼散射光的强度，基于反斯托克斯拉曼散射光的强度的变化来检测超导线材(1)发生了常导过渡。 | ||
| 申请公布号 | CN103959044A | 申请公布日期 | 2014.07.30 |
| 申请号 | CN201280058234.0 | 申请日期 | 2012.11.30 |
| 申请人 | 株式会社藤仓 | 发明人 | 大道浩儿;寺田佳弘 |
| 分类号 | G01N21/65(2006.01)I;G01D5/353(2006.01)I;G01K11/12(2006.01)I;G01N25/02(2006.01)I;G01N25/20(2006.01)I;H01F6/06(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/65(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 舒艳君;李洋 |
| 主权项 | 一种超导线材的常导过渡的检测方法，其中，所述检测方法是具备基体材料、具有77K以上的临界温度的超导层以及金属稳定化层的超导线材的常导过渡的检测方法，光纤配置于所述超导线材；向所述光纤入射测定光；测量所述测定光的反斯托克斯拉曼散射光的强度；基于所述反斯托克斯拉曼散射光的强度的变化来检测所述超导线材发生了常导过渡。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||