发明名称 一种芯片尺寸级氮化镓基晶体管及其制备方法
摘要 本发明提供了一种芯片尺寸级氮化镓基晶体管及其制备方法。该芯片尺寸级氮化镓基晶体管包括:衬底;依次沉积于衬底正面的低温成核层、氮化镓高阻层、高迁移率氮化镓层、氮化铝掺入层、铝镓氮势垒层、氮化镓帽层,其中,氮化镓帽层的两侧经刻蚀形成台阶;分别形成氮化镓帽层两侧台阶的漏极和源极,形成于氮化镓帽层上的栅极,其中,漏极、源极和栅极各自的下方直至衬底背面分别形成通孔,三个通孔的侧壁形成绝缘层,其内部填充金属,从而将漏极、源极和栅极电性连接至衬底背面。本发明将漏极、栅极、源级的金属层用导电通道的方法连接到衬底背面,在原有器件性能不变的基础上,能大大缩减封装器件的体积。
申请公布号 CN103943677A 申请公布日期 2014.07.23
申请号 CN201410153249.6 申请日期 2014.04.16
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 谢海忠;纪攀峰;李璟;刘志强;伊晓燕;王军喜;李晋闽
分类号 H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I 主分类号 H01L29/778(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 曹玲柱
主权项 一种芯片尺寸级氮化镓基晶体管,其特征在于,包括:衬底(1);依次沉积于所述衬底(1)正面的低温成核层(2)、氮化镓高阻层(3)、高迁移率氮化镓层(4)、氮化铝掺入层(5)、铝镓氮势垒层(6)、氮化镓帽层(7),其中,所述氮化镓帽层(7)的两侧经刻蚀形成台阶,该台阶的下沿直至所述铝镓氮势垒层(6);分别形成所述氮化镓帽层(7)两侧台阶的漏极(8)和源极(10),形成于所述氮化镓帽层(7)上的栅极(9),其中,所述漏极(8)、源极(10)和栅极(9)各自的下方直至所述衬底(1)未沉积薄膜的另一面分别形成通孔,三个通孔的侧壁形成绝缘层(12),其内部填充金属(13、14、15),从而将所述漏极(8)、源极(10)和栅极(9)电性连接至衬底(1)未沉积薄膜的背面,形成相应的导电垫,构成氮化镓基晶体管主体;以及形成于所述氮化镓基晶体管主体的侧面以及上面,并露出所述衬底(1)背面导电垫的绝缘封装层。
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
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