发明名称 |
发光测定装置及发光测定方法、控制程式、可读记录媒体 |
摘要 |
本发明不仅可测定1个光学元件之发光量,且无需使用如先前般之识别ID电路即可容易且正确地测定并检查复数个光学元件之发光量,且亦可容易且正确地测定并检查光学元件发光之指向性或灰尘附着不良。其中包含:位址指定机构41,其系从拍摄LED之发光状态之复数个受光部中,对1个或复数个受光部指定位址;光量判断机构42,其比较来自由位址指定机构41指定之1个或复数个受光部之摄像信号之值与基准值,当摄像信号之值低于基准值之情形时判断为光量不良,而当摄像信号之值为基准值以上之情形时判断为光量良好;及指向性判断机构43,其比较来自由位址指定机构41指定之1个或复数个之受光部之摄像信号之值与基准值,而判断LED之发光之指向性良好与否。 |
申请公布号 |
TWI445929 |
申请公布日期 |
2014.07.21 |
申请号 |
TW100109768 |
申请日期 |
2011.03.22 |
申请人 |
夏普股份有限公司 日本 |
发明人 |
斋藤仁;尾上毅 |
分类号 |
G01J1/00;H01L33/00 |
主分类号 |
G01J1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼;林宗宏 台北市松山区敦化北路201号7楼 |
主权项 |
一种发光测定装置,其系检测光学元件之发光者,且包含配设有接收来自该光学元件之发光而进行拍摄之复数个受光部之摄像元件、及使用来自该摄像元件之摄像信号而检查控制该光学元件之发光状态之控制部;其中该控制部包含从拍摄上述光学元件之发光状态之复数个受光部中,对1个或复数个受光部指定位址之位址指定机构、及基于来自由该位址指定机构指定之1个或复数个受光部之摄像信号而检查该光学元件之发光状态之发光状态检查机构;该控制部进一步包含比较来自以上述位址指定机构所指定之1个或复数个受光部之摄像信号之值与基准值而判断上述光学元件之发光状态之良好与否之判断机构;且由该判断机构所判断之判断结果为不良之情形时,变更上述位址指定机构指定位址之受光部,上述判断机构比较来自变更后之受光部之摄像信号之值与基准值而进行上述发光元件之发光状态之良好与否之进一步的判断。 |
地址 |
日本 |