发明名称 | 一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法,包括:S1:将待检测的缺陷模式属性状态机集合置于待测函数控制流入口;S2:程序通过路径由前置位置执行到目标位置;S3:属性状态机的状态沿程序路径进行传递以及变化,在目标位置处到达预设状态;S4:取控制流当前节点,判断是否为控制流最后节点;S5:如果不为控制流最后节点,则根据当前节点信息更新属性状态条件以及属性状态分区集合信息。本发明提供的基于状态分区技术的缺陷检测求精方法,给出了缺陷模式的定义,缺陷模式状态机的定义,路径条件的定义,状态条件的定义,状态分区的定义,基于状态分区技术,给出缺陷检测求精方法,从而提高缺陷检测的精度。 | ||
申请公布号 | CN103927258A | 申请公布日期 | 2014.07.16 |
申请号 | CN201410138438.6 | 申请日期 | 2014.04.08 |
申请人 | 北京邮电大学 | 发明人 | 金大海;张大林;宫云战;王雅文;黄俊飞 |
分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李迪 |
主权项 | 一种基于状态分区的静态缺陷检测求精方法,其特征在于,包括具体以下步骤:S1:将待检测的缺陷模式的属性状态机的状态集合置于待测函数控制流入口;S2:程序通过路径由前置位置执行到目标位置;S3:属性状态机的状态沿程序路径进行传递以及变化,在所述目标位置处到达预设状态;S4:取控制流当前节点,判断是否为控制流最后节点;S5:如果不为控制流最后节点,则根据当前节点信息更新属性状态条件以及属性状态分区集合信息。 | ||
地址 | 100876 北京市海淀区西土城路10号 |