发明名称 |
从晶圆背侧切割晶圆;WAFER DICING FROM WAFER BACKSIDE |
摘要 |
兹描述切割半导体晶圆的方法,每一晶圆具有复数个积体电路。例如,方法包括涂铺保护带至晶圆前侧,晶圆具有附接至晶圆背侧的切割带。自晶圆背侧移除切割带,以露出晶粒附接膜,晶粒附接膜置于晶圆背侧与切割带之间。或者,若最初无晶粒附接膜置于晶圆背侧与切割带之间,则在此操作中,涂铺晶粒附接膜至晶圆背侧。涂铺水溶性遮罩至晶圆背侧。于晶圆背侧上进行雷射划线,以切穿遮罩、晶粒附接膜和晶圆,包括包含在晶圆的前侧与背侧内的所有层。进行电浆蚀刻,以处理或清洗由雷射划线所露出的晶圆表面。清洗晶圆背侧,及涂铺第二切割带至晶圆背侧。自晶圆前侧移除保护带。 |
申请公布号 |
TW201426840 |
申请公布日期 |
2014.07.01 |
申请号 |
TW102147205 |
申请日期 |
2013.12.19 |
申请人 |
应用材料股份有限公司 |
发明人 |
雷伟生;伊顿贝德;伊尔亚帕尔纳;辛沙拉杰特;亚拉曼奇里麦德哈瓦饶;库默亚杰 |
分类号 |
H01L21/304(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/304(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财;李世章 |
主权项 |
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地址 |
APPLIED MATERIALS, INC. 美国 |