发明名称 从晶圆背侧切割晶圆;WAFER DICING FROM WAFER BACKSIDE
摘要 兹描述切割半导体晶圆的方法,每一晶圆具有复数个积体电路。例如,方法包括涂铺保护带至晶圆前侧,晶圆具有附接至晶圆背侧的切割带。自晶圆背侧移除切割带,以露出晶粒附接膜,晶粒附接膜置于晶圆背侧与切割带之间。或者,若最初无晶粒附接膜置于晶圆背侧与切割带之间,则在此操作中,涂铺晶粒附接膜至晶圆背侧。涂铺水溶性遮罩至晶圆背侧。于晶圆背侧上进行雷射划线,以切穿遮罩、晶粒附接膜和晶圆,包括包含在晶圆的前侧与背侧内的所有层。进行电浆蚀刻,以处理或清洗由雷射划线所露出的晶圆表面。清洗晶圆背侧,及涂铺第二切割带至晶圆背侧。自晶圆前侧移除保护带。
申请公布号 TW201426840 申请公布日期 2014.07.01
申请号 TW102147205 申请日期 2013.12.19
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 雷伟生;伊顿贝德;伊尔亚帕尔纳;辛沙拉杰特;亚拉曼奇里麦德哈瓦饶;库默亚杰
分类号 H01L21/304(2006.01) 主分类号 H01L21/304(2006.01)
代理机构 代理人 蔡坤财;李世章
主权项
地址 APPLIED MATERIALS, INC. 美国