半导体装置、利用该半导体装置的测试方法以及多晶片系统;SEMICONDUCTOR APPARATUS, TEST METHOD USING THE SAME AND MULTI CHIPS SYSTEM

摘要

一种半导体装置包括测试单元，该测试单元包括：资料判断单元，该资料判断单元被配置成接收复数个资料，判断复数个资料是否相同，以及将判断结果输出为压缩信号；以及输出控制单元，该输出控制单元被配置成回应于测试模式信号和裸晶启动信号，而将压缩信号输出作为测试结果