用于嵌入式基板之边界扫描测试装置及方法

摘要

本文中揭示用于嵌入式基板之边界扫描测试装置及方法。边界扫描测试装置包含：具有半导体晶片嵌入于其中之嵌入式基板，该半导体晶片为待测试之目标物；测试晶片，执行在嵌入于该嵌入式基板中之半导体晶片之边界扫描测试；以及测试控制器，控制该测试晶片以让该边界扫描测试在嵌入于该嵌入式基板中之该半导体晶片上执行。可以可靠和快速地在嵌入于该嵌入式基板中之半导体晶片上执行连接状态测试和功能测试。

主权项

一种用于嵌入式基板之边界扫描测试装置，包括：嵌入式基板，系具有嵌入于其中之半导体晶片，该半导体晶片为待测试之目标物；测试晶片，系执行在嵌入于该嵌入式基板中之该半导体晶片上之边界扫描测试；以及测试控制器，系控制该测试晶片以令使该边界扫描测试在嵌入于该嵌入式基板中之该半导体晶片上执行，其中，该测试控制器系于该测试晶片控制该半导体晶片以使该半导体晶片之输入及输出端子和内部核心逻辑彼此分离之状态下对该测试晶片施用测试资料，而令使该施用的测试资料经由该半导体晶片输出藉此测试基板连接状态。