发明名称 |
集成电路装置及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种集成电路装置及其制造方法。本发明的集成电路装置的工作件(work piece)包括具有上表面和侧壁的铜凸块。在铜凸块的侧壁上形成保护层,但其上表面没有保护层。保护层包括铜的化合物和聚合物,且为介电层。本发明提供的集成电路装置及其制造方法,在裸片对晶片接合工艺中,即使工作件的温度高时,保护层也可避免铜凸块的氧化。 |
申请公布号 |
CN102280423B |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201110025101.0 |
申请日期 |
2011.01.20 |
申请人 |
台湾积体电路制造股份有限公司 |
发明人 |
林俊成;黄雅希;陈新瑜;蔡柏豪;林彦甫;黄震麟;蔡方文;邱文智 |
分类号 |
H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/488(2006.01)I |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 72003 |
代理人 |
姜燕;陈晨 |
主权项 |
一种集成电路装置,包括:一第一工作件,包括:一铜凸块,具有一上表面及侧壁;以及一保护层,在该铜凸块的该侧壁上,而不在该上表面,其中该保护层包括一含铜聚合物类的化合物,且其中该保护层为一介电层。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |