发明名称 集成电路装置及其制造方法
摘要 本发明公开了一种集成电路装置及其制造方法。本发明的集成电路装置的工作件(work piece)包括具有上表面和侧壁的铜凸块。在铜凸块的侧壁上形成保护层,但其上表面没有保护层。保护层包括铜的化合物和聚合物,且为介电层。本发明提供的集成电路装置及其制造方法,在裸片对晶片接合工艺中,即使工作件的温度高时,保护层也可避免铜凸块的氧化。
申请公布号 CN102280423B 申请公布日期 2014.06.04
申请号 CN201110025101.0 申请日期 2011.01.20
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 林俊成;黄雅希;陈新瑜;蔡柏豪;林彦甫;黄震麟;蔡方文;邱文智
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人 姜燕;陈晨
主权项 一种集成电路装置,包括:一第一工作件,包括:一铜凸块,具有一上表面及侧壁;以及一保护层,在该铜凸块的该侧壁上,而不在该上表面,其中该保护层包括一含铜聚合物类的化合物,且其中该保护层为一介电层。
地址 中国台湾新竹市