| 发明名称 | FPGA单粒子闩锁监测方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种FPGA单粒子闩锁监测方法及装置，具体包括：使用重离子束流辐照FPGA，监测FPGA的工作电流，当所述工作电流超过规定值时，对FPGA进行重新配置；若上述重新配置失败，则对FPGA进行断电重启，重新加载程序；若上述重新加载程序成功，则记录一次单粒子闩锁。该方法能实时监测器件的工作电流，有利于FPGA单粒子闩锁的判断，同时，由于采用了计算机控制的可编程电源，具有保护被试器件的作用。 | ||
| 申请公布号 | CN103777135A | 申请公布日期 | 2014.05.07 |
| 申请号 | CN201210398220.5 | 申请日期 | 2012.10.18 |
| 申请人 | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 | 发明人 | 王群勇;冯颖;阳辉;陈冬梅;陈宇;刘燕芳;白桦 |
| 分类号 | G01R31/317(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/317(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 王莹 |
| 主权项 | 一种FPGA单粒子闩锁监测方法，其特征在于，该方法包括：a、使用重离子束流辐照FPGA，监测FPGA的工作电流，当所述工作电流超过规定值时，对FPGA进行重新配置；b、若上述重新配置失败，则对FPGA进行断电重启，重新加载程序；c、若上述重新加载程序成功，则记录一次单粒子闩锁。 | ||
| 地址 | 100089 北京市海淀区紫竹院路69号中国兵器708室 | ||