| 摘要 |
1. Сцинталляционный способ мониторинга параметров пучка ионов, включающий пропускание пучка ионов через слой материала, сцинтиллирующего при взаимодействии с ионами пучка, регистрацию сцинтилляций фотоприемниками, расположенными равномерно по окружности вокруг пучка в плоскости сцинтиллирующего слоя, и последующее вычисление по известному алгоритму координат места возникновения сцинтилляций, отличающийся тем, что сцинтилляции регистрируют в ближней инфракрасной области спектра.2. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве сцинтиллирующего материала используют аргон.3. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве сцинтиллирующего материала используют криптон.4. Способ по п.1, отличающийся тем, что в качестве сцинтиллирующего материала используют ксенон.5. Способ по п.1, отличающийся тем, сцинтиллирующие материалы используют при нормальных давлении и температуре.6. Устройство для осуществления способа по п.1, содержащее сцинтиллятор, установленный перпендикулярно направлению пучка ионов, ряд фотоприемников, расположенных равномерно по окружности сцинтиллятора, схему регистрации и обработки сигналов с фотоприемников, отличающееся тем, что сцинтиллятор выполнен в виде дискообразной светонепроницаемой камеры, а фотоприемники установлены в отверстиях, выполненных в ее боковой стенке, и снабжены светофильтрами, прозрачными для инфракрасного излучения, при этом сцинтиллятор вместе с фотоприемниками заключен в герметичную оболочку с отверстиями для впуска и выпуска сцинтиллирующего газа. |
