发明名称 |
中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片 |
摘要 |
本发明所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,其中心波长2700±5nm,其在航空尾气气体检测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片的峰值透过率Tp≥80%、带宽=200±20nm,1000~3500nm(除通带外),Tavg<0.5%。 |
申请公布号 |
CN103713346A |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201310631477.5 |
申请日期 |
2013.11.29 |
申请人 |
杭州麦乐克电子科技有限公司 |
发明人 |
王继平;吕晶;胡伟琴 |
分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
主分类号 |
G02B5/20(2006.01)I |
代理机构 |
杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 |
代理人 |
周豪靖 |
主权项 |
一种中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:96nm厚度的Ge层、304nm厚度的SiO层、132nm厚度的Ge层、159nm厚度的SiO层、82nm厚度的Ge层、338nm厚度的SiO层、140nm厚度的Ge层、339nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、349nm厚度的SiO层、70nm厚度的Ge层、169nm厚度的SiO层、136nm厚度的Ge层、343nm厚度的SiO层、149nm厚度的Ge层、473nm厚度的SiO层、232nm厚度的Ge层、668nm厚度的SiO层、103nm厚度的Ge层和226nm厚度的SiO层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:178nm厚度的Ge层、166nm厚度的SiO层、92nm厚度的Ge层、222nm厚度的SiO层、102nm厚度的Ge层、277nm厚度的SiO层、135nm厚度的Ge层、150nm厚度的SiO层、55nm厚度的Ge层和150nm厚度的SiO层。 |
地址 |
311188 浙江省杭州市钱江经济开发区兴国路503-2-101 |