发明名称 中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片
摘要 本发明所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,其中心波长2700±5nm,其在航空尾气气体检测过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片的峰值透过率Tp≥80%、带宽=200±20nm,1000~3500nm(除通带外),Tavg<0.5%。
申请公布号 CN103713346A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201310631477.5 申请日期 2013.11.29
申请人 杭州麦乐克电子科技有限公司 发明人 王继平;吕晶;胡伟琴
分类号 G02B5/20(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人 周豪靖
主权项 一种中心波长2700nm的航空尾气气体检测滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、SiO为第一镀膜层和以Ge、SiO为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:96nm厚度的Ge层、304nm厚度的SiO层、132nm厚度的Ge层、159nm厚度的SiO层、82nm厚度的Ge层、338nm厚度的SiO层、140nm厚度的Ge层、339nm厚度的SiO层、137nm厚度的Ge层、349nm厚度的SiO层、70nm厚度的Ge层、169nm厚度的SiO层、136nm厚度的Ge层、343nm厚度的SiO层、149nm厚度的Ge层、473nm厚度的SiO层、232nm厚度的Ge层、668nm厚度的SiO层、103nm厚度的Ge层和226nm厚度的SiO层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:178nm厚度的Ge层、166nm厚度的SiO层、92nm厚度的Ge层、222nm厚度的SiO层、102nm厚度的Ge层、277nm厚度的SiO层、135nm厚度的Ge层、150nm厚度的SiO层、55nm厚度的Ge层和150nm厚度的SiO层。
地址 311188 浙江省杭州市钱江经济开发区兴国路503-2-101