发明名称 | 集成电路及其测试系统 | ||
摘要 | 一种集成电路(Integrated Circuit),包括输入单元、核心处理单元及M个输出缓冲单元,其中M为大于1的自然数。输入单元具有输出控制接脚,以接收输出控制信号。核心处理单元耦接至输入单元,以接收输出控制信号,以提供M个输出控制信号。M个输出缓冲单元耦接至核心处理单元,并分别响应于M个输出控制信号时分多工地为致能,以分别在M个操作期间中输出M个输出信号。 | ||
申请公布号 | CN103576072A | 申请公布日期 | 2014.02.12 |
申请号 | CN201210259667.4 | 申请日期 | 2012.07.25 |
申请人 | 联咏科技股份有限公司 | 发明人 | 程智修;洪邦桢 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 史新宏 |
主权项 | 一种集成电路,包括:一输入单元,具有一输出控制接脚,用以接收一输出控制信号;一核心处理单元,耦接至该输入单元,用以接收该输出控制信号,并据以提供M个输出控制信号,M为大于1的自然数;以及M个输出缓冲单元,耦接至该核心处理单元,该M个输出缓冲单元分别响应于该M个输出控制信号,时分多工地为致能,以分别在M个操作期间中输出M个输出信号。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 |