发明名称 分析仪器及其操作方法
摘要 用于光学测量测试介质(4)的至少一个性质的分析仪器(1)包括:光源(20);光管理单元(22),用于将由所述光源(20)发射的光引导通过所述测试介质(4)中的检测空间(30);光检测单元(24),用于检测由测试介质(4)散射、反射或传送的所述光的至少一部分;功率管理单元(13);以及数据管理单元(28)。分析仪器(1)经由源布线(7)而耦合于功率源(10)。所述功率管理单元(13)经由缓冲器布线(18)而使来自功率源(10)的能量分配到所述光源(20),并且经由另外的布线(9,11)而分配到所述光检测单元(24)和所述数据管理单元(28)。数据管理单元(28)适应于经由信号布线(11)而与所述光检测单元(24)以及与接收单元(19)交换测量数据,其中所述分析仪器(1)适应于在潜在危险的环境(5)中操作。
申请公布号 CN103562708A 申请公布日期 2014.02.05
申请号 CN201180071451.9 申请日期 2011.04.08
申请人 ABB研究有限公司 发明人 A.克拉梅;T.鲍尔;Y.马雷特;J.D.洛博
分类号 G01N21/49(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I 主分类号 G01N21/49(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 张金金;汤春龙
主权项  一种用于光学测量测试介质(4)、特别是流体(4)的至少一个性质的分析仪器(1),所述分析仪器(1)包括-至少一个光源(20),用于发射光,-可选地,至少一个光管理单元(22),用于将由所述光源(20)发射的光引导到所述测试介质(4)中的检测空间(30)上和/或内以及通过所述测试介质(4)中的检测空间(30),以及/或可选地至少一个光管理单元(22),用于接收与测试介质交互的光的至少一部分,-至少一个光检测单元(24),用于检测由测试介质(4)弹性和/或非弹性散射和/或反射和/或传送和/或折射的所述光的至少一部分,-至少一个功率管理单元(13),以及-至少一个数据管理单元(28),其中所述分析仪器(1)进一步包括功率源(10)和/或经由源布线(7)而耦合于功率源(10),其中所述功率管理单元(13)经由缓冲器布线(18)而使来自功率源(10)的能量分配到至少所述光源(20),并且经由另外的布线(9,11)而分配到至少所述光检测单元(24)和/或所述数据管理单元(28),其中所述数据管理单元(28)适应于经由信号布线(11)而与所述光检测单元(24)以及直接或间接与接收单元(19)交换测量数据,其中所述分析仪器(1)适应于在潜在危险的环境(5)中操作,其中至少在源布线(7)和/或在所述另外的布线(9,11)中,分析仪器(1)中的任何电流I限于小于或等于100毫安的最大电流(Imax),并且分析仪器(1)中的任何电压U限于小于或等于30伏的最大电压(Umax)。
地址 瑞士苏黎世