发明名称 片状纳米形貌和带状纳米形貌的可控六方相In<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>的制备方法
摘要 片状纳米形貌和带状纳米形貌的可控六方相In2Se3的制备方法,其中片状纳米形貌的In2Se3的制备方法是:A、将基片超声清洗,然后用热氮气干燥后放入磁控溅射设备的溅射室,B、在氩气气氛下用In2Se3靶材进行70-80秒的磁控溅射,溅射功率为4-8W/cm2,衬底温度为350-370℃。带状纳米形貌的In2Se3的制备方法则是:A、B两步操作后,再将衬底温度升高至基片的软化温度,纵向加机械压力,使基片发生曲率半径为3~50m的弯曲,并持续8-12min;然后再次沉积200-250秒。该方法能制备出具有完整纳米片状形貌和带状形貌的In2Se3,且其制备效率高,成本低,适合于工业化生产。
申请公布号 CN103526172A 申请公布日期 2014.01.22
申请号 CN201310499546.1 申请日期 2013.10.22
申请人 西南交通大学 发明人 闫勇;张勇;余洲;晏传鹏;赵勇
分类号 C23C14/35(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/58(2006.01)I;B82Y40/00(2011.01)I 主分类号 C23C14/35(2006.01)I
代理机构 成都博通专利事务所 51208 代理人 陈树明
主权项 一种片状纳米形貌的可控六方相In2Se3的制备方法,包括以下步骤:A、将基片依次在丙酮、乙醇、去离子水中各经过10‑20分钟的超声清洗,然后用热氮气干燥后放入磁控溅射设备的溅射室;B、在磁控溅射靶枪上安装纯度为99.99%的In2Se3靶,铟硒原子百分比为2:3,调整溅射靶枪到基片的距离为5‑7厘米,将溅射室抽真空至气压小于2×10‑4Pa,再通入纯度为99.995%的氩气;调节溅射工作气压为0.4‑0.7Pa,溅射功率为4‑8W/cm2,衬底温度为350‑370℃,待辉光稳定后,沉积70‑80秒,即得到片状纳米形貌的可控六方相In2Se3。
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