发明名称 |
一种测试数据压缩方法、数据解压缩装置及解压缩方法 |
摘要 |
本发明公开了一种确定性自测试的测试数据压缩方法、数据解压缩装置和数据解压缩方法。所述压缩方法包括:聚类压缩,以及聚类压缩与输入精简压缩和移位压缩的结合。所述数据解压缩装置包括:比特计数器、向量计数器、移位计数器、聚类移位寄存器、地址计数器、比较器、异或门、输入压缩寄存器、反相器。本发明提出的上述方案由于采用了聚类移位输入精简压缩方法,对难测故障的测试数据先进行输入压缩,再将输入压缩后的测试数据进行聚类压缩,最后对聚类压缩后的测试数据进行移位压缩,使得最终需要存储在内建自测试电路ROM中的存储单元减少,节省了内建自测试电路的硬件开销。 |
申请公布号 |
CN103499787A |
申请公布日期 |
2014.01.08 |
申请号 |
CN201310438999.3 |
申请日期 |
2013.09.24 |
申请人 |
中国科学院自动化研究所 |
发明人 |
涂吉;王子龙;李立健 |
分类号 |
G01R31/3187(2006.01)I;G01R31/3183(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/3187(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种确定性自测试的测试数据压缩方法,其包括:步骤1:利用伪随机产生的数据对集成电路进行测试,确定难测故障并记录;步骤2:获得所记录的难测故障的测试数据,并进行输入压缩,生成输入压缩后的测试数据集合;步骤3:将上述输入压缩后的测试数据集合进行聚类压缩,对测试数据集合中的测试数据进行类的划分,使得每个类内的测试数据两两之间最多只相差一个比特;步骤4:对上述聚类压缩后的测试数据集合进行移位压缩,最终生成压缩后的测试数据集合。 |
地址 |
100190 北京市海淀区中关村东路95号 |