发明名称 一种在超声成像空间中定义感兴趣容积的方法及其装置
摘要 本发明实施例公开了一种在超声成像空间中定义感兴趣容积的方法及装置。包括:在超声成像空间中定义感兴趣容积的初始框架;接收关键控制点选择信号,根据关键控制点选择信号在超声成像空间中的任意位置选择至少一个关键控制点;用所述至少一个关键控制点和所述初始框架的至少一个元素生成至少一个感兴趣容积曲面;用所述至少一个感兴趣容积曲面在所述超声成像空间中描绘感兴趣容积。本发明实施例的方法和装置根据选择的关键控制点及初始框架即可计算出感兴趣容积曲面,通用性强,能够支持多种形式的曲面,曲面定位准确,且用户操作方便。
申请公布号 CN102081697B 申请公布日期 2013.12.11
申请号 CN200910225716.0 申请日期 2009.11.27
申请人 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 发明人 田勇;姚斌
分类号 G06F19/00(2011.01)I;A61B8/00(2006.01)I 主分类号 G06F19/00(2011.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 何平
主权项 一种在超声成像空间中定义感兴趣容积的方法,其特征在于:包括:初始框架定义步骤:在超声成像空间中定义感兴趣容积的初始框架;关键控制点选择步骤:接收关键控制点选择信号,根据所述关键控制点选择信号在所述超声成像空间中的任意位置选择至少一个关键控制点;感兴趣容积曲面生成步骤:用所述至少一个关键控制点和所述初始框架的至少一个元素生成至少一个感兴趣容积曲面;感兴趣容积描绘步骤:用所述至少一个感兴趣容积曲面在所述超声成像空间中描绘感兴趣容积;所述关键控制点选择步骤进一步包括:参考平面选择步骤:接收参考平面选择信号,根据所述参考平面选择信号在所述超声成像空间中选择至少一个参考平面;代理控制点选择步骤:接收代理控制点选择信号,根据所述代理控制点选择信号在所述参考平面上任意位置选择至少一个代理控制点;关键控制点更新步骤:由所述关键控制点与所述参考平面的投影关系,按照与所述投影关系反向的投影关系计算所述至少一个代理控制点的反向投影点,用所述反向投影点代替所述关键控制点为新的至少一个关键控制点,并且所述感兴趣容积曲面生成步骤中用所述新的至少一个关键控制点和所述初始框架的至少一个元素生成至少一个感兴趣容积曲面。
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