| 摘要 |
1. Вычислительное устройство (122), содержащее:процессор (212), оценивающий, по меньшей мере, один параметр сканирования протокола сканирования, выбранного для сканирования объекта с помощью системы (102) получения изображений, основываясь на соответствующей методике определения параметров сканирования, и создающий сигнал, указывающий, удовлетворяет ли параметр сканирования методике определения параметров сканирования.2. Устройство (122) по п.1, в котором методика определения параметров сканирования содержит, по меньшей мере, одну из следующих методик: методику определения дозы облучения, основанную на воздействии ионизирующим излучением, методику определения на основе контрастного вещества или методику определения на основе качества изображения.3. Устройство (122) по п.1, в котором процессор (212) проверяет допустимость параметра сканирования в ответ на параметр сканирования, удовлетворяющий заданному пороговому значению в методике определения параметров сканирования.4. Устройство (122) по п.1, в котором процессор (212) отображает, основываясь на методике определения параметров сканирования, предложенный для замены параметр сканирования, удовлетворяющий методике определения параметров сканирования, в ответ на параметр сканирования, не удовлетворяющий методике определения параметров сканирования.5. Устройство (122) по п.1, в котором процессор (212) отображает, основываясь на методике определения параметров сканирования, предложенный для замены оптимизированный параметр сканирования для параметра сканирования, удовлетворяющего методике определения параметров сканирования, основываясь на заданных критериях оптимиза |
