| 摘要 |
<p>Mikroskop, vorzugsweise Laser-Scanning-Mikroskop, mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl, der in einem Teilbereich entlang seines Querschnitts mit einer Modulationsfrequenz phasenmoduliert wird und einem Mikroskopobjektiv zur Fokussierung des Beleuchtungsstrahls in eine Probe sowie einem Detektionsstrahlengang und mindestens einem Mittel zur Demodulation, wobei ein gepulster Beleuchtungsstrahl vorliegt und im Beleuchtungsstrahlengang vor dem Mikroskopobjektiv ein erster Polarisationsstrahlenteiler vorgesehen ist der mindestens einen ersten und zweiten Teilstrahlengang erzeugt, die, vorzugsweise einstellbar, unterschiedliche Lichtwege aufweisen und ein Vereinigungselement, vorzugsweise ein zweiter Polteiler, zur Wiedervereinigung der Teilstrahlen vorgesehen ist wobei in einem Teilstrahlengang ein Phasenelement vorgesehen ist das mindestens zwei Bereiche mit unterschiedlicher Phasenbeeinflussung aufweist.</p> |
