发明名称 |
半导体装置及其制造方法 |
摘要 |
在制造半导体装置之方法中,准备具备基板、平面状半导体层、及柱状半导体层之构造体,且于柱状半导体层上部形成第2汲极/源极区域、形成接触窗挡止膜、及形成接触窗层间膜,又于第2汲极/源极区域上形成接触窗。接触窗之形成系包含:形成接触窗层之图案,且使用接触窗层之图案将接触窗层间膜蚀刻至接触窗挡止膜,藉此形成接触窗层用之接触窗孔,且藉由蚀刻将残存于接触窗层用之接触窗孔之底部之接触窗挡止膜予以去除之步骤;接触窗用之接触窗孔之底面对于基板之投影面,系位于形成于柱状半导体层上面及侧面之接触窗挡止膜对于基板之投影形状之外周内。 |
申请公布号 |
TWI415196 |
申请公布日期 |
2013.11.11 |
申请号 |
TW099127537 |
申请日期 |
2010.08.18 |
申请人 |
新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司 新加坡 |
发明人 |
舛冈富士雄;新井绅太郎;中村广记;工藤智彦;莫西 彼 拉玛拿;沈南胜;布德哈拉久 卡维沙 戴维;星 拿伐布 |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/28;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄 台北市中正区博爱路35号9楼;陈昭诚 台北市中正区博爱路35号9楼 |
主权项 |
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地址 |
新加坡 |