发明名称 一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统
摘要 本发明公开了一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,包括服务器,所述服务器通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块,所述工业控制模块通过LVDS低压差分接口连接n个激光器控制系统模块,所述激光器控制系统模块连接散热系统,所述激光器控制系统模块包括电流驱动模块,所述电流驱动模块连接激光器夹具和系统控制及数据采集模块。本发明适用于要求通道数量多、封装类型灵活多样的QCW半导体激光器做寿命测试下的参数监测方法及其设备,可以实现同时对2000台以上不同类型的半导体激光器做老化寿命测试。
申请公布号 CN103245486A 申请公布日期 2013.08.14
申请号 CN201310151121.1 申请日期 2013.04.26
申请人 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 发明人 陈伟;李超;潘永成
分类号 G01M11/00(2006.01)I;G05B19/418(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人 曹毅
主权项 一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,其特征在于:包括服务器(1),所述服务器(1)通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块(2),所述工业控制模块(2)通过LVDS低压差分接口连接10‑100个激光器控制系统模块(3),所述激光器控制系统模块(3)连接散热系统(7),所述激光器控制系统模块(3)包括电流驱动模块(4),所述电流驱动模块(4)连接激光器夹具(5)和系统控制及数据采集模块(6)。
地址 215000 江苏省苏州市高新区科灵路88号