发明名称 |
一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,包括服务器,所述服务器通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块,所述工业控制模块通过LVDS低压差分接口连接n个激光器控制系统模块,所述激光器控制系统模块连接散热系统,所述激光器控制系统模块包括电流驱动模块,所述电流驱动模块连接激光器夹具和系统控制及数据采集模块。本发明适用于要求通道数量多、封装类型灵活多样的QCW半导体激光器做寿命测试下的参数监测方法及其设备,可以实现同时对2000台以上不同类型的半导体激光器做老化寿命测试。 |
申请公布号 |
CN103245486A |
申请公布日期 |
2013.08.14 |
申请号 |
CN201310151121.1 |
申请日期 |
2013.04.26 |
申请人 |
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
发明人 |
陈伟;李超;潘永成 |
分类号 |
G01M11/00(2006.01)I;G05B19/418(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/00(2006.01)I |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 32200 |
代理人 |
曹毅 |
主权项 |
一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,其特征在于:包括服务器(1),所述服务器(1)通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块(2),所述工业控制模块(2)通过LVDS低压差分接口连接10‑100个激光器控制系统模块(3),所述激光器控制系统模块(3)连接散热系统(7),所述激光器控制系统模块(3)包括电流驱动模块(4),所述电流驱动模块(4)连接激光器夹具(5)和系统控制及数据采集模块(6)。 |
地址 |
215000 江苏省苏州市高新区科灵路88号 |