发明名称 高崩溃电压双闸半导体装置
摘要 本发明揭示一种双闸半导体装置,其提供一高崩溃电压,从而允许对功率应用较有用的一较大输出电压偏移。该双闸半导体装置可视为一双闸装置,其包括一MOS闸极与一接面闸极,其中该接面闸极之偏压可能系该MOS闸极之闸极电压之一函数。该双闸半导体装置之崩溃电压系该MOS闸极与该接面闸极之崩溃电压之和。因为一个别接面闸极具有一本质高崩溃电压,故该双闸半导体装置之崩溃电压大于一个别MOS闸极之崩溃电压。比较知电晶体装置,除了在更高功率位准下的可操作性外,该双闸半导体装置还提供改良的RF能力。该双闸半导体装置还可在一更高空间密度组态下加以制造,使得以排除在该MOS闸极与该接面闸极之间的一共用植入。
申请公布号 TWI405333 申请公布日期 2013.08.11
申请号 TW097109243 申请日期 2008.03.14
申请人 艾康半导体公司 美国 发明人 丹尼斯A 马司里亚;亚历山卓G 布拉凯尔;法兰西司C 胡恩;派崔司J 贝洛
分类号 H01L29/78 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国