发明名称 集成电路测试连接装置
摘要 本实用新型公开了一种集成电路测试连接装置,在同一方案的集成电路测试过程中通过使用转接口排列顺序固定的集成电路转接板,在集成电路功能测试过程中通过使用桥接转板将集成电路引脚的顺序与集成电路转接板转接口的排列顺序调整一致。集成电路转接板的转接口的顺序固定,通过桥接转板实现将同一方案的引脚的顺序不一致的集成电路的引脚调整一致,即通过调整集成电路转接板的转接口的顺序,实现了同一方案的集成电路进行测试时使用同一集成电路转接板。桥接转板设计简单、耗时短且成本低,避免了重新设计集成电路转接板造成的材料浪费和交期时间较长的问题。
申请公布号 CN203117228U 申请公布日期 2013.08.07
申请号 CN201320069952.X 申请日期 2013.02.06
申请人 深圳欧菲光科技股份有限公司 发明人 杜润飞;关赛新;蔡荣军
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 邓云鹏
主权项 一种集成电路测试连接装置,用于在对集成电路进行功能测试时连接所述集成电路和测试装置,其特征在于,包括:集成电路转接板,具有引脚为固定排列顺序的转接口和连接测试装置的数据输出接口;桥接转板,具有用于连接所述集成电路的引脚的输入接口和与所述转接口对接的输出接口,所述输入接口和输出接口的传输相同信号的引脚在所述桥接转板内部一一对应连接。
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