| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren (100) zur Erzeugung einer anlagenspezifischen Projektierungsunterlage (2) für eine zu projektierende Leittechnik einer technischen Anlage sowie eine zur Durchführung des Verfahrens ausgebildete Vorrichtung (1). Gemäß der Erfindung wird eine Referenz-Projektierungsunterlage (3) der technischen Anlage erzeugt (101). Durch einen unter Verwendung (18) einer Abgleichskennzeichnung (4) durchgeführten Abgleich (103) von einer unter Verwendung von Standard-Projektierungsobjekten (5) erstellten (102) projektspezifischen Projektierungsunterlage (6) der technischen Anlage mit der Referenz-Projektierungsunterlage (3) wird dann die anlagenspezifische Projektierungsunterlage (2) erstellt.</p> |
