发明名称 气囊抛光加工大口径光学元件的边缘精度控制方法
摘要 气囊抛光加工大口径光学元件的边缘精度控制方法,涉及一种气囊抛光元件加工过程中控制边缘精度的方法,属于光学加工领域。解决现有光学元件加工过程中为解决的“边缘效应”而造成破坏主面精度的风险大、成本高和效率低的问题。获取待加工元件对应材料的边缘区域去除函数;建立待加工元件边缘区域去除函数库;根据抛光路径的间隙m和抛光气囊的压缩量fi计算待加工元件边缘区域的宽度;提取相应的去除函数;设定边缘区域去除函数的驻留时间tn;对待加工元件进行边缘区域的误差轮廓预测计算,获得待加工元件边缘区域的面形误差;评估面形误差;获取待加工元件边缘位置响应的去除函数的驻留时间值,生成抛光文件,执行抛光过程。本发明可广泛应用于大口径观雪元件的边缘精度控制加工过程。
申请公布号 CN103144004A 申请公布日期 2013.06.12
申请号 CN201310095057.X 申请日期 2013.03.22
申请人 哈尔滨工业大学 发明人 李洪玉;汪洪源;张伟
分类号 B24B13/00(2006.01)I;B24B51/00(2006.01)I 主分类号 B24B13/00(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 杨立超
主权项 1.气囊抛光加工大口径光学元件的边缘精度控制方法,其特征在于它包括如下步骤:步骤一:获取待加工元件对应材料的边缘区域去除函数;步骤二:根据步骤一获得的边缘区域去除函数建立待加工元件边缘区域去除函数库,所述边缘区域去除函数库为根据抛光气囊的压缩量f<sub>i</sub>和伸出量d<sub>i</sub>一一对应的边缘区域去除函数;步骤三:根据抛光路径的间隙m和抛光气囊的压缩量f<sub>i</sub>计算待加工元件边缘区域的宽度;步骤四:根据步骤三获取的待加工元件边缘区域的宽度、抛光路径的间隙m、抛光气囊的压缩量f<sub>i</sub>和伸出量d<sub>i</sub>从步骤二所述边缘区域去除函数库中提取相应的去除函数;所述提取的边缘区域去除函数为<img file="FDA00002954927200011.GIF" wi="245" he="59" />其中i=1,2....n,(x,y)为抛光区域内点的坐标;步骤五:根据步骤四提取的边缘区域去除函数对待加工元件边缘设定边缘区域去除函数的驻留时间t<sub>n</sub>;所述驻留时间t<sub>n</sub>为抛光工具在待加工元件边缘区域所停留的时间;步骤六:根据材料去除叠加原理对待加工元件进行边缘区域的误差轮廓预测计算,获得待加工元件边缘区域的面形误差,即边缘区域误差分布的方均根值E;步骤七:评估步骤六获得的待加工元件边缘区域的面形误差是否达到加工要求;即设待加工元件边缘区域的面形误差的加工要求为A:如果E<A,或E=A,则进入步骤八;如果E>A,则返回步骤五重新设定驻留时间;步骤八:获取待加工元件边缘位置响应的去除函数的驻留时间值,生成抛光文件,执行抛光过程。
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号