发明名称 | 一种长余辉荧光粉性能测试装置 | ||
摘要 | 一种长余辉荧光粉性能测试装置,属于光电测试装置技术领域。其特征在于包括黑箱、用于激发荧光粉的激发光源,黑箱内设置用于放荧光粉的托盘,托盘上方设置光电探头,在激发光源和荧光粉之间设置用于控制光照的快门,激发光源、光电探头、快门均与控制电路配合连接,控制电路与上位机配合连接。上述一种长余辉荧光粉性能测试装置,采用有良好密闭性的黑箱放置荧光粉,能很好地避免各种光辐射干扰,测量出极为微弱的荧光粉余辉信号,同时通过内部实时采集记录程序,能够避免任何断电引起的数据丢失现象,其测试结果准确,使用方便,工作稳定可靠。 | ||
申请公布号 | CN202956344U | 申请公布日期 | 2013.05.29 |
申请号 | CN201220738821.1 | 申请日期 | 2012.12.28 |
申请人 | 浙江大学城市学院 | 发明人 | 熊凯 |
分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人 | 吴秉中 |
主权项 | 一种长余辉荧光粉性能测试装置,其特征在于包括黑箱(5)、用于激发荧光粉的激发光源(3),黑箱(5)内设置用于放荧光粉的托盘(6),托盘(6)上方设置光电探头(7),在激发光源(3)和荧光粉之间设置用于控制光照的快门(4),激发光源(3)、光电探头(7)、快门(4)均与控制电路(2)配合连接,控制电路(2)与上位机(1)配合连接。 | ||
地址 | 310015 浙江省杭州市湖州街51号 |