发明名称 | 探针 | ||
摘要 | 本发明的探针具有被支撑部单臂支撑的梁部以及从梁部的自由端部向直角方向下方延伸的触头。在触头的靠梁部的固定端部侧的侧部形成有内侧切口部,在触头的靠梁部的自由端部侧的侧部形成有外侧切口部,外侧切口部和内侧切口部被形成为使触头在触头以预定的接触压力接触到被检查体时弯曲。根据本发明,在被检查体的电气特性的检查中,能够在恰当地维持探针与被检查体的接触性的同时,提高探针的耐久性。 | ||
申请公布号 | CN101878431B | 申请公布日期 | 2013.05.15 |
申请号 | CN200880118192.9 | 申请日期 | 2008.11.05 |
申请人 | 东京毅力科创株式会社 | 发明人 | 米沢俊裕 |
分类号 | G01R1/067(2006.01)I | 主分类号 | G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人 | 苗堃 |
主权项 | 一种探针,用于通过与被检查体接触来检查该被检查体的电气特性,其中,所述探针具有:梁部,其被支撑部件单臂支撑;以及触头,其从所述梁部的自由端部向被检查体一侧延伸;其中,在所述触头的侧部形成有多个切口部,在上下方向上相邻的所述切口部分别交替地形成在所述触头的靠所述梁部的固定端部侧的侧部和靠所述梁部的自由端部侧的侧部,并且在水平方向上切入至所述触头的顶端部的上方,使得所述触头不会由于施加在该触头上的接触压力而在上下方向上被压缩。 | ||
地址 | 日本东京都 |